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XRF熒光光譜儀薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品 奧富森提供的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進(jìn)行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)，元素純度可達(dá)99.9%以上；同時(shí)綜合ICP和XRF等檢測(cè)技術(shù)，可精確標(biāo)定薄膜標(biāo)樣的負(fù)載量。
空氣濾膜混合元素標(biāo)準(zhǔn)膜此標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) 是一種空氣顆粒樣品，其粒徑已減小，以模擬 PM2.5 空氣顆粒物（空氣動(dòng)力學(xué)當(dāng)量直徑為 2.5 µm 的顆粒）并沉積在聚碳酸酯上濾膜。 它主要用于評(píng)估和校準(zhǔn)分析方法過(guò)濾介質(zhì)上收集的各種空氣懸浮顆粒物中含有的常見(jiàn)和有毒元素。OFS-2783 的一個(gè)單元包括兩個(gè)加載過(guò)濾器和兩個(gè)空白過(guò)濾器。
MICROMATTER元素標(biāo)準(zhǔn)膜 厚度范圍從低至0.5 µg/cm2的濃度，到幾個(gè)微米的厚度。 如今，在超過(guò)50多個(gè)國(guó)家的前沿機(jī)構(gòu)使用MICROMATTER標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)它們的X射線熒光光譜儀系統(tǒng)。MICROMATTERTM標(biāo)準(zhǔn)樣品zui常用于空氣污染監(jiān)測(cè)和薄鍍層等領(lǐng)域
NIST標(biāo)準(zhǔn)品 SRM 2783 濾膜上的空氣顆粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) NIST的前身為美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局，成立于1901年。是設(shè)在美國(guó)商務(wù)部科技管理局下的非管理機(jī)構(gòu)，負(fù)責(zé)國(guó)家層面上的計(jì)量基礎(chǔ)研究。NIST在研究化學(xué)及物理測(cè)量技術(shù)的同時(shí)，還提供以NIST為商標(biāo)的各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)（SRM，Standard Reference Material），該商標(biāo)以使用測(cè)量方法和技術(shù)而聞名。
加拿大MICROMATTER元素標(biāo)準(zhǔn)膜片 所有 MICROMATTERTM的薄的膜片和厚的單一或多元素標(biāo)準(zhǔn)樣品可以制作在各種尺寸上。 濃度度范圍從低至0.5 µg/cm2的濃度，到120µg/cm2。 如今，在超過(guò)50多個(gè)國(guó)家的前沿機(jī)構(gòu)使用MICROMATTER標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)它們的X射線熒光光譜儀系統(tǒng)。MICROMATTERTM標(biāo)準(zhǔn)樣品**常用于空氣污染監(jiān)測(cè)和薄鍍層等領(lǐng)域
